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OmniScan SX超聲探傷儀
OmniScan SX超聲探傷儀 OmniScan SX是一款積累了20多年探索相控陣技術(shù)的經(jīng)驗(yàn),體現(xiàn)了OmniScan精華的探傷儀。為了更加方便地使用儀器,OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡(jiǎn)化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無(wú)模塊儀器,針對(duì)檢測(cè)要求較低的應(yīng)用,這款儀器操作非常方便,性?xún)r(jià)比很高。
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產(chǎn)品說(shuō)明
一、產(chǎn)品介紹
OmniScan SX有兩種型號(hào):SX PA和SX UT。
SX PA是一款16:64PR相控陣單元,與僅具有UT通道的SX UT一樣,也配備了一個(gè)常規(guī)UT通道,可以進(jìn)行脈沖回波、一發(fā)一收或TOFD檢測(cè)。與OmniScan MX2相比,OmniScan SX重量輕33 %體積小50 %,更為輕巧便攜。
二、設(shè)置
可以在NDT SetupBuilder中為檢測(cè)進(jìn)行設(shè)置,然后再通過(guò)SD卡或USB鑰匙,將設(shè)置直接導(dǎo)入到OmniScan SX儀器。進(jìn)行采集之前,只需在儀器中進(jìn)行幾項(xiàng)基本操作,如:設(shè)置閘門(mén)和范圍。由于OmniScan SX具有以下幾個(gè)特性,用戶(hù)也可以在儀器中非常方便地創(chuàng)建設(shè)置:
? 自動(dòng)探頭識(shí)別
? 單步驟、預(yù)先配置應(yīng)用的向?qū)?/span>
? 焊縫覆蓋與聲線跟蹤模擬
三、校準(zhǔn)
為完成一項(xiàng)符合規(guī)范的檢測(cè),儀器中的校準(zhǔn)向?qū)Э梢允沟妹拷M中的每個(gè)聚焦法則都等同于一個(gè)單通道常規(guī)探傷儀。用戶(hù)在完成所要求的校準(zhǔn)過(guò)程中,會(huì)得到向?qū)У姆植街笇?dǎo)。所校準(zhǔn)的項(xiàng)目包括聲速、楔塊延遲、靈敏度、TCG、DAC、AWS及編碼器。現(xiàn)在,儀器可以自動(dòng)完成TOFD PCS校準(zhǔn)與直通波矯直的操作。
四、采集
在進(jìn)行手動(dòng)、單線或光柵編碼掃查時(shí),OmniScan SX可以方便地對(duì)檢測(cè)參數(shù)進(jìn)行配置。采集數(shù)據(jù)可以用戶(hù)選擇的視圖形式實(shí)時(shí)顯示在屏幕上,用戶(hù)還可以將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于具有熱插拔功能的SD卡或USB 2.0設(shè)備中。
五、優(yōu)勢(shì)
? 智能布局
? 全屏模式,可更好地顯示缺陷
? 可以使用不同的閘門(mén)組合對(duì)同步和測(cè)量進(jìn)行處理數(shù)據(jù)分析和報(bào)告制作
? 數(shù)據(jù)光標(biāo)、參考光標(biāo)與測(cè)量光標(biāo)用于缺陷的定量。
? 擴(kuò)展的數(shù)據(jù)庫(kù)、預(yù)先定義的三角學(xué)參數(shù)列表、缺陷相對(duì)于軸的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)、體積位置信息、基于規(guī)范的合格標(biāo)準(zhǔn)、腐蝕成像的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)等等。
? 在進(jìn)行離線閘門(mén)重新定位的操作中,視圖可被鏈接在一起,進(jìn)行交互式分析和自動(dòng)更新。
? 優(yōu)化的預(yù)置布局可對(duì)缺陷的長(zhǎng)度、深度和高度進(jìn)行快速方便的定量。
無(wú)論您想在計(jì)算機(jī)中完成數(shù)據(jù)分析,還是希望您的OmniScan儀器采集完數(shù)據(jù)后繼續(xù)在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,OmniPC或TomoView都是理想的與OmniScan配套使用的軟件工具。
聯(lián)系人:達(dá)剛
聯(lián)系方式:13773606606
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