為了方便操作者校準(zhǔn)斜探頭角度、前沿、零點(diǎn)及材料聲速，提供了斜探頭雙孔法自動(dòng)校準(zhǔn)功能，利用此功能可方便的完成斜探頭的校準(zhǔn)工作。斜探頭校準(zhǔn)功能位于功能菜單中。

以BSM360標(biāo)配的斜探頭為例，它是一個(gè)頻率5MHz，晶片為10mm×10mm，角度為K2的單晶探頭。可以利用CSK-IIIA試塊對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)。

假設(shè)以深度為20mm和40mm的兩個(gè)孔對(duì)該探頭進(jìn)行校準(zhǔn)，其步驟如下：

開機(jī),須將探頭零點(diǎn)值設(shè)置為0.00us，探頭前沿設(shè)置為0mm；先初步設(shè)定一個(gè)大概的聲速值如3230m/s，探頭K值設(shè)置為2（或者探頭角度設(shè)置為63.4o）；

調(diào)節(jié)閘門邏輯為單閘門方式，即閘門邏輯為正或負(fù)；

調(diào)節(jié)探測(cè)范圍使得屏幕顯示區(qū)域能顯示100mm以上的回波，如150mm；

將探頭耦合到試塊上找到20mm深度孔的回波，移動(dòng)探頭使得回波幅值達(dá)到高值，移動(dòng)閘門A的起點(diǎn)到回波并與之相交；

選擇功能組中的斜探頭校準(zhǔn)功能菜單，按<確認(rèn)鍵>確認(rèn)深度值，同時(shí)探頭校準(zhǔn)菜單內(nèi)出現(xiàn)一個(gè)深度值數(shù)字，調(diào)整該數(shù)字使之與試塊上的反射體實(shí)際深度相同，即20mm；

測(cè)量反射體在水平表面投影到探頭前端的距離，本例中測(cè)量結(jié)果約為29mm，再按<確認(rèn)鍵>確認(rèn)水平投影值，此時(shí)探頭校準(zhǔn)菜單內(nèi)出現(xiàn)一個(gè)數(shù)字（水平投影值），調(diào)整該數(shù)字使之與上述測(cè)量的數(shù)值相同；（注意此時(shí)不要按確認(rèn)鍵）

移動(dòng)探頭找到40mm深度孔的回波，并使得回波幅值達(dá)到高值，移動(dòng)閘門A的起點(diǎn)到回波并與之相交；

選擇功能組中的斜探頭校準(zhǔn)功能菜單，按<確認(rèn)鍵>確認(rèn)深度值，此時(shí)系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整增益值，使一次回波的幅度大約在屏幕高度的80％的位置上，同時(shí)探頭校準(zhǔn)菜單內(nèi)出現(xiàn)一個(gè)數(shù)字，調(diào)整該數(shù)字使之與試塊上的反射體實(shí)際深度相同，即40mm；

測(cè)量反射體在水平表面投影到探頭前端的距離，本例中測(cè)量結(jié)果約為69mm，再按<確認(rèn)鍵>確認(rèn)水平投影值，此時(shí)探頭校準(zhǔn)菜單內(nèi)出現(xiàn)一個(gè)數(shù)字，調(diào)整該數(shù)字使之與上述測(cè)量的數(shù)值相同；

再按<確認(rèn)鍵>完成自動(dòng)校準(zhǔn)，此時(shí)儀器的角度、前沿、材料聲速和探頭零點(diǎn)將被自動(dòng)調(diào)整為準(zhǔn)確數(shù)值；

在校準(zhǔn)確認(rèn)之前，按<凍結(jié)>鍵可以取消校準(zhǔn)過(guò)程。